微區(qū)探頭Ava-Probe-M

Ava-Probe-M是專門針對微小區(qū)域（≤1mm）的反射率測試設(shè)計的，適用于表面平整，形狀規(guī)則的材料。探頭配合不同芯徑的光纖，可實現(xiàn)不同區(qū)域大小反射光譜的測量。使用過程中，可通過觀察窗，觀察確認樣品的測量。